產(chǎn)品介紹:
薄膜厚度測(cè)量和反射計(jì)系統(tǒng)SR100通過(guò)測(cè)量反射光譜,結(jié)合tfprobe軟件建模能力可獲得薄膜性質(zhì)。TFProbe系列光譜反射工具具有許多特點(diǎn),如長(zhǎng)工作距離、工作距離可調(diào)、大平臺(tái)尺寸、可選擇的光源和可調(diào)光源強(qiáng)度等。簡(jiǎn)單的附加功能也可選,如傳輸、曲面測(cè)量適配器、多通道、大或小光束設(shè)置等等
產(chǎn)品參數(shù):
波長(zhǎng)范圍 | 25-~1100nm |
現(xiàn)貨尺寸 | 500μm~5mm |
樣品尺寸 | 直徑200*200mm或200mm |
底材尺寸 | 厚度可達(dá)50mm |
可測(cè)量厚度范圍 | 最大50μm |
測(cè)量時(shí)間 | 2ms最小 |
精度 | 優(yōu)于0.25% |
重復(fù)性 | <1A |
主要應(yīng)用:
太陽(yáng)能電池中的薄膜
光刻膠,聚酰亞胺,氧化物,氮化物
光學(xué)涂層,TiO2,SiO2,Ta2O5 ...
半導(dǎo)體化合物,電池間隙
MEMS / MOEMS中的功能性薄膜
薄膜晶體管(TFT)堆疊
導(dǎo)電氧化物:氧化銦錫
在醫(yī)療器械上涂層